基于高速缓存测试区域来为预取选择高速缓存老化策略[发明专利]

来源：客趣旅游网

专利内容由知识产权出版社提供

专利名称：基于高速缓存测试区域来为预取选择高速缓存老化

策略

专利类型：发明专利发明人：保罗·莫耶

申请号：CN2016800850.3申请日：20160915公开号：CN109074312A公开日：20181221

摘要：高速缓存控制器[105]基于高速缓存[110]的不同测试区域[115,116]的访问量度来应用老化策略[111,112]至部分高速缓存，藉此每一测试区域实现不同老化策略。每一测试区域的老化策略建立高速缓存的每一条目的初始龄期值，并且特定老化策略可基于条目响应于来自处理器内核的需求请求还是响应于预取请求布置于高速缓存来设定给定条目的龄期。高速缓存控制器可将每一条目的龄期值用作其高速缓存更换策略的判据。

申请人：超威半导体公司

地址：美国加利福尼亚州

国籍：US

代理机构：上海胜康律师事务所

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